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X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110

X射线荧光镀层厚度测量仪STF-1101.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-01-12
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产品详情

X射线荧光镀层厚度测量仪STF-1101.即放即测! 2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量! 3.可无标样测量! 4.通过样品整体图像更方便选择测量位置!

X射线荧光镀层厚度测量仪STF-110的主要特征]
1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。
2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。
3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。
4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像测量位置。
5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。
6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。


[主要产品规格]


检测器

比例计数管

X射线源

空冷式小型X射线管

准直器

0.1、0.2mmφ2种

样品观察

CCD摄像头

样品台移动量

250(X)×200(Y)mm

样品最大高度

150mm


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